Descripció del projecte
La metrologia de superfícies és utilitzada en un ampli ventall de sectors, des de mesurar els xips del semiconductors fins a mesurar la rugositat en les peces utilitzades en el món de l’automoció. En general, la màxima restricció en les tècniques òptiques per assolir la màxima resolució vertical possible, és el límit de difracció de la llum. No obstant, hi ha un compromís entre el límit del soroll instrumental i el temps d’adquisició de la mesura. Segons el tipus d’aplicació, no cal aconseguir una resolució vertical propera als límits, però sí que és crític el temps de mesura, especialment en entorns de control de qualitat on el nombre de mostres a mesurar és elevat o la superfície a mesurar és gran. En aquestes aplicacions es permet que el soroll instrumental sigui més elevat.
Els principals reptes que caldrà assolir es dividiran en dues grups:
-Recerca de l’estat de l’art en la metrologia òptica d’alta velocitat. Inicialment, es tractarà de millorar el hardware i algoritmes d’un equip existent per arribar al límit físic de resolució i velocitat. Les tècniques a millorar seran interferometria, confocal o variació de focus.
-Recerca de l’estat de l’art en tècniques de metrologia òptica que permetin mesures ultra ràpides de superfícies. Fer una comparativa entre els beneficis i desavantadges de cada tècnica. S’haurà d’estudiar la viabilitat de la tècnica considerant el hardware necessari i els costos associats per a tal de desenvolupar un equip comercial. Possibles tècniques a estudiar seran: holografia, codificació del front d’ona, transport d’irradiància, “frequency combs”, escanejat espectral de llum blanca, “light field”, “polarizing phase shift” (DIC), etc.
