Descripció del projecte
La metrologia de superfícies és clau en un ampli ventall de sectors industrials. és fonamental per la validació i monitoratge de peces, en indústries tan diferents com la del semiconductor o de l’automoció. Les especificacions més bàsiques en la mesura topogràfica són: la resolució i rang tant vertical com lateral, la velocitat en la mesura, i el cost per mesura. Existeixen diferents tècniques que balancegen aquestes especificacions, però no existeix una solució òptima única, atès que diferents sectors tenen diferents necessitats i la millor solució sovint depèn del tipus de mostra a mesurar. Un avantatge clau dels equips de Sensofar és que permeten combinar diferents tecnologies en un mateix equip, amb una excel·lent interfície per l’usuari. Malgrat això, Sensofar necessita, per una banda, mantenir i millorar la qualitat i velocitat de les tecnologies actualment utilitzades, i per altra banda, innovar en noves tecnologies que puguin ser més competitives o que puguin ser complementàries. Un sector emergent és el de la fabricació additiva, que requereix la monitorització del procés, per exemple utilitzant metrologia òptica de les superfícies. En aquest àmbit, la velocitat i la capacitat de mesurar superfícies rugoses però amb extensions elevades són importants. El projecte del doctorat industrial investigarà i desenvoluparà tecnologies que responguin a aquestes necessitats en aquest àmbit, i amb la visió de crear la base d’un futur producte comercial. Els principals objectius de la tesi del doctorat industrial seran principalment:
– Estudi i millora del hardware i els algoritmes de reconstrucció en tècniques conegudes per Sensofar, com interferometria, confocal o variació de focus.
– Disseny òptic d’objectius de microscopi i de sistemes d’il·luminació, no convencionals o no disponibles al mercat, que s’adaptin a les necessitats de les tècniques a desenvolupar.
– Recerca en tècniques de mesura de superfícies ultra ràpides. S’explorarà la viabilitat i beneficis de tècniques més disruptives, com: codificació de la PSF (point spread function), il·luminació estructurada, ús d’elements òptics per multiplexar l’escaneig axial, ús d’il·luminació codificada temporalment, ús d’escanejos no mecànics ràpids, etc.
